赫爾納供應瑞士LS Instruments光散射儀LS

赫爾納供應瑞士LS Instruments光散射儀LS

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公司簡介：

LS Instruments可用的光散射技術不允許對濃縮樣品進行研究。此外，存在測量，而科學家無法從結果中找出這一點。彼得和弗蘭克致力于解決這個問題。目標是擴展商用光散射技術，以實現(xiàn)對渾濁和高濃度樣品的表征。

LS Instruments光散射儀主要產品：

LS Instruments光散射儀

LS Instruments流變儀

LS Instruments光散射儀產品型號：

LS

V-MALS

LS Instruments光散射儀產品特點：

粒徑范圍（R h） 0.15 nm 至 5μm

回轉半徑 5納米至5微米

分子量 360 - 3˙600˙000 道爾頓

有效：10°至150°

角度分辨率 +/- 0.05°

激光 光纖耦合激光器 120 mW，638 nm

激光強度可調范圍為 0.01% 至 100%

溫度 達 90 °C

尺寸（長x寬x高） 156 x 84 x 31 厘米

LS Instruments光散射儀產品應用：

LS Instruments光散射儀LS 光譜儀可變多角度光散射儀 (V-MALS) 可實現(xiàn)的顆粒表征。LS Spectrometer TM是一款可變多角度光散射儀器 (V-MALS)。在 V-MALS 中，探測器安裝在可移動臂上。LS Instruments光散射儀這樣可以調整角度，從而提高測量靈敏度。LS Spectrometer TM結合獲得的調制 3D技術（免稀釋測量）和 CORENN（改進的聚集體檢測），可實現(xiàn)市場上的納米顆粒表征?？勺兌嘟嵌裙馍⑸?(V-MALS)與傳感器安裝在固定角度的 MALS 儀器相比，LS Spectrometer TM的探測器安裝在圍繞樣品的旋轉臂上，以便可以且可變地調整到 12° 至 150° 之間的選定散射角度。LS Instruments光散射儀這有助于顯著提高顆粒尺寸和聚集體檢測以及衣殼負載、顆粒形狀或分子量等參數(shù)測量的靈敏度使用多重散射濾光片進行免稀釋測量DLS 和 SLS 技術都基于僅檢測到單個散射光的假設。然而，隨著顆粒濃度的增加，多重散射增加并逐漸主信號。LS Instruments光散射儀這在 DLS 和 SLS 中引入了不可檢測的系統(tǒng)誤差。LS Instruments 開發(fā)了可選的調制 3D 單元，可有效抑制多重散射。調制 3D 互相關技術使用兩束激光同時執(zhí)行兩個散射實驗。LS Instruments光散射儀雖然源自單次散射的是相同的，但在兩個實驗中多重散射的是不同的。通過對信號進行互相關，多重散射因此被抑制。3D LS 光譜儀是為 DLS 和 SLS 提供此技術的儀器。CORENN 是一種用于從 DLS 測量中提取粒度分布 (PSD)。LS Instruments光散射儀顯示了 4 nm 和 45 nm 顆?；旌衔锏?DLS 測量。有 CORENN 能夠正確確定這兩個群體。這是表征各向異性粒子的技術，并且越來越受到科學家的關注：一組兩個偏振器允許您通過簡單的 DLS 測量來表征樣品的旋轉動力學和各向異性粒子的縱橫比。LS Instruments光散射儀我們大的溫度循環(huán)器使您能夠控制樣品中的溫度。與其他循環(huán)器相比，它顯著減少了加熱和冷卻時間?？梢酝ㄟ^LSI的LSI軟件模塊進行預編程，以在不同溫度下進行系列測量。LS Instruments光散射儀許多適合光散射的凝膠狀樣品表現(xiàn)出非遍歷行為，從而導致測量誤差。LS Instruments 開發(fā)了一種測角儀，可以以適當?shù)乃俣刃D非遍歷樣品以獲得正確的結果。LS Instruments光散射儀此外，樣品測角儀還可用于使樣品偏離旋轉。這使得可以使用方形池，其中樣品中的散射光路徑可以減少到小于 200 微米，從而顯著減少多重散射。