赫爾納供應(yīng)德國(guó)NanoFocus三維激光掃描儀

赫爾納供應(yīng)德國(guó)NanoFocus三維激光掃描儀

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢(shì)供應(yīng),德國(guó)總部直接采購(gòu)，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品,支持選型，為您提供一對(duì)一好的解決方案：貨期穩(wěn)定，快速報(bào)價(jià)，價(jià)格優(yōu)，在中國(guó)設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù).

公司簡(jiǎn)介：

自 1994 年以來(lái)，NanoFocus AG 一直致力于開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)和銷售用于工業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的光學(xué) 3D 表面測(cè)量技術(shù)。工業(yè)用 3D 共聚焦顯微鏡，用于分析技術(shù)表面，配備µsurf 測(cè)量系統(tǒng)。伴隨著不斷的進(jìn)一步發(fā)展，這些和其他 NanoFocus 技術(shù)是工業(yè)表面測(cè)量技術(shù)。

NanoFocus三維激光掃描儀主要產(chǎn)品：

NanoFocus三維激光掃描儀

NanoFocus三維激光掃描儀產(chǎn)品型號(hào)：

µscan CLM-FC

µsoft Metrology

NanoFocus三維激光掃描儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

µscan CLM-FC 系列的測(cè)量設(shè)備還可用于檢測(cè)密封材料和涂層中小的裂縫和缺陷，并檢查氣體擴(kuò)散層 (GDL) 的孔隙率和缺陷。具有測(cè)量范圍的高細(xì)節(jié)度，共焦多通道傳感器的方法可實(shí)現(xiàn)動(dòng)態(tài)掃描長(zhǎng)度。

NanoFocus三維激光掃描儀產(chǎn)品應(yīng)用：

NanoFocus三維激光掃描儀scan CLM-FC（燃料電池），燃料電池的生產(chǎn)相關(guān)和非破壞性表面分析，使用快速的全表面 3D 掃描，可以在臨近生產(chǎn)時(shí)以高精度檢查工具和雙極板（石墨或金屬）的表面質(zhì)量。

NanoFocus三維激光掃描儀與傳統(tǒng)測(cè)量方法（例如激光掃描顯微鏡）相比的優(yōu)勢(shì)：明顯更大的測(cè)量范圍。進(jìn)給軸的行程動(dòng)態(tài)決定掃描長(zhǎng)度。結(jié)合行程范圍可達(dá) 0.5 m 的可靈活配置的軸系統(tǒng)，該方法還可以測(cè)量大型雙極板和重型工具。如果需要，全表面掃描輪廓儀可以與高分辨率 3D 顯微鏡結(jié)合使用。這種共焦光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)可以根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對(duì) 3D 粗糙度進(jìn)行詳細(xì)評(píng)估。

NanoFocus三維激光掃描儀直觀的測(cè)量和控制軟件 µsoft metrology FC 保證了測(cè)量的高效進(jìn)行。借助 µsoft Metrology，可以從一個(gè)用戶界面方便地控制傳感器和全景相機(jī)。在傳感器或全景相機(jī)之間切換時(shí)，測(cè)量頭會(huì)自動(dòng)移動(dòng)到定義的測(cè)量位置。幾秒鐘后獲得具有強(qiáng)度疊加的測(cè)量結(jié)果的有意義的 3D 表示。

NanoFocus三維激光掃描儀表面分析軟件 µsoft analysis FC 提供的功能包，用于顯示和分析結(jié)構(gòu)、粗糙度、波紋度、臺(tái)階高度、輪廓和其他表面特征。

NanoFocus三維激光掃描儀在直觀的多語(yǔ)言用戶界面中，按一下按鈕創(chuàng)建復(fù)雜的分析報(bào)告。NanoFocus三維激光掃描儀剖面圖、3D 重建或反射圖像等多種顯示選項(xiàng)可創(chuàng)建有意義的測(cè)量報(bào)告。用戶可以輕松創(chuàng)建和實(shí)施個(gè)人評(píng)估方案。該軟件包含過(guò)濾功能，并根據(jù) ISO 25178、ISO 4287、ISO 13565 或 EN 15178 提供的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)。如果需要，NanoFocus 還可以創(chuàng)建單獨(dú)的插件以進(jìn)一步處理測(cè)量數(shù)據(jù)。

NanoFocus三維激光掃描儀3D光學(xué)輪廓儀1個(gè)2個(gè)3個(gè)，MarSurf CP/CL 選擇，2D / 3D 輪廓測(cè)量，MarSurf CP 和 MarSurf CL select是光學(xué)輪廓儀，可用于測(cè)量和分析二維和三維表面——非接觸式、與材料無(wú)關(guān)且快速。

NanoFocus三維激光掃描儀它們的特點(diǎn)是同時(shí)具有高測(cè)量精度的大測(cè)量區(qū)域的極快檢測(cè)。 由于采用模塊化設(shè)計(jì)，測(cè)量系統(tǒng)可以適應(yīng)各種測(cè)量任務(wù)以及對(duì)自動(dòng)化、測(cè)量舒適度和準(zhǔn)確性的個(gè)性化要求。根據(jù)測(cè)量任務(wù)的不同，可以靈活選擇不同的傳感器。軸系統(tǒng)和軟件模塊可以單獨(dú)組合。

NanoFocus三維激光掃描儀MarSurf CP 和 CL選擇您對(duì)自動(dòng)化、測(cè)量舒適度和準(zhǔn)確性的個(gè)性化要求 - 直至全自動(dòng)測(cè)量解決方案。